-
功率器件動態參數測試系統DT10-華普通用
專業測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態時間參數特性,測試范圍可達3500V 4000A -
Keithley 4200A-SCS半導體參數分析儀-華普通用
使用 4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀)加快各類材料、半導體器件和先進工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能領先電學特性參數分析儀,提供同步電流電壓 -
TSI POWERSIGHT固體激光器的激光多普勒測速儀LDV-華普通用
TSI的一維、二維或三維(1D,2D或3D)激光多普勒測速(LDV)系統,包含 新型的PowerSight固態激光器,絕對讓您耳目一新。該款全新增強型系統整合了PowerSight模塊,該模組由最新型固態激光器 -
Chroma Model3650 SoC測試系統-華普通用
Chroma 3650可在一個測試頭中,提供最多512 個數位通道,并具備高產能的平行測試功能, 最高可同時測試32 個待測晶片,以提升量產效能。 -
BUCHI Pure 制備色譜系統-華普通用
Pure色譜儀非常的緊湊,確保最高水平的安全性并且易于應用在Flash快速分離和HPLC樣品制備中。 -
檔案掃描美化系統-華普通用
本系統為圖像處理系統,可將文檔上的黑色裝訂孔以及黑邊等自動處理 -
福祿克Raytek? Compact MI3 紅外測溫探頭/高溫計-華普通用
雷泰MI3紅外溫度傳感器代表在連續非接觸式溫度監測的新一代的性能和創新,并廣泛應用于OEM應用和制造工藝中。 -
BTPM-MWS1低濃度恒溫恒濕半自動稱重系統-華普通用
BTPM-MWS1是丹東百特儀器有限公司研制的一種半自動稱重系統,用于顆粒物采樣濾膜、濾嘴的實驗室恒溫恒濕平衡及手動稱重。 -
日本Otsuka界達電位ELSZ-2000
此設備可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑測量范圍(0 6nm~10μm),濃度范圍(0 00001%~40%)。實測電氣滲透流 -
日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
使用顯微光譜法在微小區域內通過絕對反射率進行測量,可進行高精度膜厚度 光學常數分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。 測量時間 -
日本Otsuka膜厚測量用多通道光譜儀MCPD系列
光譜儀(MCPD-9800 MCPD-3700 MCPD-7700) 提供豐富選配套件以及客制化光纖, 可依據安裝現場需求評估設計,是一套可靈活架設于各種環境下的最佳即時測量系統 -
美國Buehler AutoMet 250 研磨拋光機
AutoMet系列研磨拋光機專為嚴苛的生產實驗室環境而設計。 AutoMet 250適用于手動或自動樣品制備,其簡單靈活的操作,讓用戶可以輕松地應對多種應用需求