日本理學ZSX Primus III+ 波長色散X射線熒光光譜儀
產(chan)品描述
X射線管位于分析樣品上方,最大程度減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。
可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到最佳。
特點
實(shi)現粉末、固體(ti)樣品(pin)不(bu)同元素不(bu)同含量的高精度分析
高(gao)精(jing)度定(ding)位樣品臺滿足合(he)金(jin)分析高(gao)精(jing)度要求
特殊光學(xue)系統減少樣品表面不平而引起的誤差
樣(yang)品室可簡單移出方便清潔(jie)
操作界面(mian)簡(jian)潔(jie)、自動化程度高
ZSX Primus III +
Rigaku ZSX Primus III +在(zai)各種(zhong)樣(yang)品(pin)類型中快速定(ding)量測定(ding)從鈹(pi)(Be)到鈾(U)的主要(yao)和次要(yao)原子元素。
高(gao)于光學元件的管道,可靠性更(geng)高(gao)
ZSX Primus III +具有(you)創新(xin)的(de)光(guang)學上(shang)述配置。由于樣品室的(de)維護,再也不用(yong)擔心(xin)被污染的(de)光(guang)束路徑或停機時間。光(guang)學元件以上(shang)的(de)幾何結(jie)構消除了(le)清(qing)潔(jie)問題并延長了(le)使(shi)用(yong)時間。
高精度(du)樣品定位
樣品的(de)高精度定(ding)位確保樣品表面與X射線管之間的(de)距離(li)保持恒定(ding)。這對(dui)于要求高精度的(de)應用(yong)(yong)很重(zhong)要,例(li)如合金分析。ZSX Primus III +采(cai)用(yong)(yong)獨(du)特的(de)光學配置(zhi)進(jin)行高精度分析,旨在最大(da)限度地減少樣品中非(fei)平坦表面引起的(de)誤差,如熔(rong)融珠和壓制(zhi)顆粒
使用EZ-scan軟件的SQX基本參數
EZ掃描允許(xu)用戶在未事先設置的(de)(de)情況下分(fen)析(xi)未知(zhi)樣品。節省(sheng)時間功能只需點擊幾(ji)下鼠標(biao)并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可(ke)以(yi)提供(gong)最(zui)(zui)準確(que),最(zui)(zui)快速的(de)(de)XRF結果。SQX能夠自(zi)動校(xiao)正所有的(de)(de)矩陣(zhen)效應(ying),包括線重疊。SQX還可(ke)以(yi)校(xiao)正光電(dian)子(光和(he)超(chao)輕(qing)元素),不同氣氛(fen),雜質和(he)不同樣品尺寸的(de)(de)二次(ci)激發效應(ying)。使用匹配庫(ku)和(he)完美的(de)(de)掃描分(fen)析(xi)程序可(ke)以(yi)提高(gao)準確(que)度。
特征
元素從(cong)Be到U的(de)分析(xi)
管(guan)道上(shang)方的(de)光學器(qi)件使污染(ran)問題(ti)最小化
占地面積小,使用的(de)實驗室(shi)空間(jian)有(you)限
高精度樣(yang)品定位
特殊光學(xue)元(yuan)件可(ke)減少曲面樣品表面造成的誤差
統計過程控制(zhi)軟件工具(ju)(SPC)
吞(tun)吐量可以(yi)優化(hua)疏(shu)散和真空泄漏率