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日本理學ZSX Primus III+ 波長色散X射線熒光光譜儀

型號:ZSX Primus III+
X射線管位于分析樣品上方,最大程度減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。

產(chan)品描述

X射線管位于分析樣品上方,最大程度減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。
可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到最佳。



特點
  • 實(shi)現粉末、固體(ti)樣品(pin)不(bu)同元素不(bu)同含量的高精度分析

  • 高(gao)精(jing)度定(ding)位樣品臺滿足合(he)金(jin)分析高(gao)精(jing)度要求

  • 特殊光學(xue)系統減少樣品表面不平而引起的誤差

  • 樣(yang)品室可簡單移出方便清潔(jie)

  • 操作界面(mian)簡(jian)潔(jie)、自動化程度高


ZSX Primus III +

Rigaku ZSX Primus III +在(zai)各種(zhong)樣(yang)品(pin)類型中快速定(ding)量測定(ding)從鈹(pi)(Be)到鈾(U)的主要(yao)和次要(yao)原子元素。

高(gao)于光學元件的管道,可靠性更(geng)高(gao)

ZSX Primus III +具有(you)創新(xin)的(de)光(guang)學上(shang)述配置。由于樣品室的(de)維護,再也不用(yong)擔心(xin)被污染的(de)光(guang)束路徑或停機時間。光(guang)學元件以上(shang)的(de)幾何結(jie)構消除了(le)清(qing)潔(jie)問題并延長了(le)使(shi)用(yong)時間。

高精度(du)樣品定位

樣品的(de)高精度定(ding)位確保樣品表面與X射線管之間的(de)距離(li)保持恒定(ding)。這對(dui)于要求高精度的(de)應用(yong)(yong)很重(zhong)要,例(li)如合金分析。ZSX Primus III +采(cai)用(yong)(yong)獨(du)特的(de)光學配置(zhi)進(jin)行高精度分析,旨在最大(da)限度地減少樣品中非(fei)平坦表面引起的(de)誤差,如熔(rong)融珠和壓制(zhi)顆粒

使用EZ-scan軟件的SQX基本參數

EZ掃描允許(xu)用戶在未事先設置的(de)(de)情況下分(fen)析(xi)未知(zhi)樣品。節省(sheng)時間功能只需點擊幾(ji)下鼠標(biao)并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可(ke)以(yi)提供(gong)最(zui)(zui)準確(que),最(zui)(zui)快速的(de)(de)XRF結果。SQX能夠自(zi)動校(xiao)正所有的(de)(de)矩陣(zhen)效應(ying),包括線重疊。SQX還可(ke)以(yi)校(xiao)正光電(dian)子(光和(he)超(chao)輕(qing)元素),不同氣氛(fen),雜質和(he)不同樣品尺寸的(de)(de)二次(ci)激發效應(ying)。使用匹配庫(ku)和(he)完美的(de)(de)掃描分(fen)析(xi)程序可(ke)以(yi)提高(gao)準確(que)度。


特征

  • 元素從(cong)Be到U的(de)分析(xi)

  • 管(guan)道上(shang)方的(de)光學器(qi)件使污染(ran)問題(ti)最小化

  • 占地面積小,使用的(de)實驗室(shi)空間(jian)有(you)限

  • 高精度樣(yang)品定位

  • 特殊光學(xue)元(yuan)件可(ke)減少曲面樣品表面造成的誤差

  • 統計過程控制(zhi)軟件工具(ju)(SPC)

  • 吞(tun)吐量可以(yi)優化(hua)疏(shu)散和真空泄漏率


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