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日本理學ZSX Primus IV 波長色散X射線熒光光譜儀

型號:ZSX Primus IV
理學掃描型波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus IV采用獨特的上照射設計,完美契合粉末樣品測試需求,可以快速定量分析從Be(鈹)到U(鈾)的各種類型樣品的成分分析。

產品描(miao)述

理學波長色散型X射線(xian)熒光光譜儀—ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV采用上照射設計,再不用擔心粉末樣品污染光路,損害光管的風險,操作安全放心。 集合所有ZSX系列的優點:雙真空系統,自動真空控制,mapping/微區分析,超輕元素超強靈敏度和自動芯線清洗等。 ZSX PrimusIV可靈活分析復雜樣品。30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。ZSX Primus IV完全具備迎接21世紀實驗室挑戰。

新的ZSX Guaidance專家系統XRF軟件

ZSX Guaidance專業(ye)操作(zuo)軟件為(wei)XRF測(ce)量(liang)和數據分析(xi)的(de)(de)各個方(fang)面提(ti)供支(zhi)持。準確的(de)(de)分析(xi)只能由專家進行嗎?不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具(ju)有內置的(de)(de)XRF專業(ye)知(zhi)識和熟練的(de)(de)專家知(zhi)識,可(ke)以(yi)處理復雜的(de)(de)設置。操作(zuo)員只需輸入有關樣品(pin),分析(xi)組(zu)(zu)分和標準組(zu)(zu)成的(de)(de)基本(ben)信息。具(ju)有最(zui)小(xiao)重疊(die),最(zui)佳背景和校正(zheng)參數(包括線(xian)重疊(die))的(de)(de)測(ce)量(liang)線(xian)可(ke)以(yi)借助(zhu)儀(yi)器自動設置。


卓越的輕元素XRF表現,具有可靠性的優越

ZSX Primus IV具(ju)有(you)創(chuang)新的(de)(de)光學上照式光路結構。使得再也不用(yong)擔心被(bei)光路被(bei)污染,減少后(hou)期維護。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具(ju)有(you)卓越的(de)(de)性能和分析最(zui)復雜樣品的(de)(de)靈活(huo)性,采用(yong)30微米鈹(pi)窗(chuang)膜(mo)的(de)(de)光管,這是(shi)業界最(zui)薄的(de)(de)終端窗(chuang)口管,可提供出色(se)的(de)(de)輕元素檢(jian)測(ce)限。

映射和多點XRF分析

結合(he)最先進的成像軟件包相結合(he),可檢測均(jun)勻性和夾雜物,ZSX Primus IV可以(yi)對樣品進行(xing)簡單(dan)詳細的XRF光譜測量研(yan)究,以(yi)提供其他(ta)分(fen)析方(fang)法不(bu)(bu)易(yi)獲得的分(fen)析見解。可用的多點分(fen)析還有助于消除不(bu)(bu)均(jun)勻材料中的采樣誤差(cha)。

SQX基本參數與EZ-Scan軟件

EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下對未知樣品進行XRF元素分析。節省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括譜線重疊。SQX還可以校正光電子,不同氣氛,雜質和不同樣品量的二次激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序可以提高準確度。


特征

  • 從Be到U的元素分析


  • ZSX Guidance專家系統軟件


  • 數字多通道分析儀(D-MCA)


  • EZ分析界面進行常規測量


  • 上照式光學系統,使污染問題最小化


  • 占地面積小,占用的實驗室空間更少


  • 微量分析可分析小至500μm的樣品


  • 30μm管提供卓越的輕元素性能


  • 映射(she)功能的元素(su)地形/分布(bu)


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