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理學波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IVi

型號:ZSX Primus IVi
理學波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IVi,采用下照式光路結構,能夠對液體、合金和電鍍金屬等樣品進行無損分析。ZSX Primus IVi為分析最復雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。

產品(pin)描述

理學波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IVi


ZSX Primus IVi 具有一個30微米(mi)的鈹窗(chuang)的X光管,這是業內最薄(bo)的鈹窗(chuang),具有卓越(yue)的輕元素檢測限。



提高通量


通(tong)過高(gao)速數(shu)據處理(li)和各驅動部(bu)的(de)(de)高(gao)效控制提高(gao)了(le)通(tong)量(liang)。 對(dui)于水(shui)泥樣(yang)品(pin) (加壓成型樣(yang)品(pin))中(zhong)16種元素的(de)(de)定量(liang)分析, 縮短約18% (與本公司相比(bi)), 增(zeng)加了(le)單(dan)位(wei)時間內處理(li)的(de)(de)樣(yang)品(pin)數(shu)量(liang)。



D-MCA高(gao)速分析


數字(zi)多通道分(fen)析儀(yi)(D-MCA)系統有(you)助于高速(su)數字(zi)處理,實現高計數率,從而提(ti)高分(fen)析精(jing)度和計算速(su)度。



光學系(xi)統(tong)不易受到(dao)樣品(pin)表面高度(du)變化的影響


不平(ping)整的(de)樣品表面會導致樣品和X射(she)線管之間的(de)距離(li)變化(hua)。這(zhe)些差異(yi)可(ke)能導致X射(she)線強(qiang)度的(de)變化(hua)。Rigaku光學(xue)系統能夠抑制由距離(li)變化(hua)引起的(de)X射(she)線強(qiang)度變化(hua)。這(zhe)使(shi)得(de)制備玻璃熔 片的(de)坩堝形狀(zhuang)的(de)差異(yi)以及粉末樣品加壓(ya)成(cheng)型(xing)時(shi)樣品表面的(de)不平(ping)整的(de)影響減少, 從而能夠進 行(xing)準確(que)的(de)分析。



精準的SQX分析


SQX分(fen)析是用于精(jing)確計算元素組成的無標準FP分(fen)析軟件。現(xian)在比以往(wang)任何時候都更易于使用。



自動芯線清(qing)洗機構(gou)


F-PC探測(ce)器芯(xin)線(xian)逐(zhu)漸(jian)被氣(qi)體污染,從(cong)而(er)降低(di)分辨(bian)率。芯(xin)線(xian)清(qing)潔機(ji)構通(tong)過電(dian)加(jia)熱(re)消除芯(xin)線(xian)污染,無需(xu)關閉電(dian)源或打開機(ji)柜(ju),從(cong)而(er)恢復性能。



特征


輔助測量和分析(xi)(xi)支持(chi):ZSX Guaidance—自動化分析(xi)(xi)設置(zhi)功能增強的第三代SQX分析(xi)(xi)軟件


ZSX Guaidance軟件—內置(zhi)XRF專(zhuan)業知識(shi)可處理復雜的設(she)置(zhi)。可用(yong)的應用(yong)程序(xu)包支持交鑰(yao)匙(chi)操作。


可(ke)編程的(de)(de)直觀軟(ruan)件,用于(yu)(yu)使用樣品托盤進行日常分析—每(mei)個(ge)托盤的(de)(de)樣本ID設(she)置(zhi)(便(bian)于(yu)(yu)輕松復(fu)制和(he)粘貼(tie),以(yi)實現高(gao)效的(de)(de)測量設(she)置(zhi))。


提高了液(ye)體樣品(pin)分析的(de)準確(que)性—校正由(you)液(ye)體樣品(pin)杯的(de)幾(ji)何形狀引起的(de)幾(ji)何形狀效(xiao)應。


高速、高精度測量—采用新(xin)驅(qu)動有效(xiao)的(de)降低了儀器(qi)運行時間


獨特的功(gong)能(neng)—下照式(shi)光(guang)路(lu)結構實現了方便的功(gong)能(neng),包(bao)括(kuo)新(xin)樣品膜校正。


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