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日本理學ZSX Primus 波長色散X射線熒光光譜儀

型號:ZSX Primus
理學ZSX系列中最新的儀器,ZSX Primus沿襲了及時提供精確結果的傳統,無與倫比的可靠性,靈活性和簡便性適合當今實驗室的各種挑戰

產品描述

理學ZSX系列中最新的儀器,ZSX Primus沿襲了及時提供精確結果的傳統,無與倫比的可靠性,靈活性和簡便性適合當今實驗室的各種挑戰。隨著理學的經驗不斷超越用戶的期望,ZSX Primus成為所有X射產品的首選。 

理學ZSX系列中最新的儀器,ZSX Primus沿襲了及時提供精確結果的傳統,無與倫比的可靠性,靈活性和簡便性適合當今實驗室的各種挑戰。隨著理學的經驗不斷超越用戶的期望,ZSX Primus成為所有X射產品的首選。 
ZSX Primus可靈活分析復雜樣品。30μm超薄窗光管,保證輕元素分析靈敏度。最先進的mapping包可以檢測同質性和夾雜物。ZSX Primus完全具備迎接21世紀實驗室挑戰。

特點:

  • 分析范圍: Be - U

  • 較小的占地面積

  • 微區分析

  • 下照設計

  • 30 μm超薄窗

  • Mapping: 元素分布

  • He 密封:樣品室一直在真空環境中


ZSX Primus

Rigaku ZSX Primus以各種各樣的樣品 - 以最低標準提供從鈹(Be)到鈾(U)的主要和次要原子元素的快速定量測定。


功能強大,靈活可靠的元素分析

作為Rigaku ZSX系列的最新儀器,ZSX Primus延續了以及時和無縫方式提供準確結果的傳統,以卓越的可靠性,靈活性和易用性滿足當今實驗室的任何挑戰。


具有映射和多點分析的低Z性能

ZSX Primus具有卓越的性能和靈活性,能夠分析最復雜的樣品,它具有30微米的窗膜,這是業內最薄的終端窗口窗膜,用于檢測極低的光譜元素。結合最先進的測試軟件,ZSX Primus可輕松對樣品進行詳細調查,以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。


使用EZ-scan軟件的SQX基本參數

EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下分析未知樣品。節省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質和不同樣品尺寸的二次激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序可以提高準確度。


特征

  • 從Be到U的元素分析

  • 占地面積小,使用的實驗室空間有限

  • 微量分析可分析小至500μm的樣品

  • 下照式光管設計針對液體和松散粉末進行了優化

  • 30μm窗膜光管提供卓越的輕元素性能

  • 映射功能的元素地形/分布

  • 氦氣密封意味著光學器件始終處于真空狀態


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