采用上照射設計，再不用擔心污染光路，清理麻煩和增加清理時間等問題。 集合所有ZSX系列的優點：雙真空系統，自動真空控制，mapping/微區分析，超輕元素超強靈敏度和自動芯線清洗等。 ZSX PrimusIV可靈活分析復雜樣品。30μm超薄窗光管，保證輕元素分析靈敏度。最先進的mapping包可以檢測同質性和夾雜物。ZSX Primus IV完全具備迎接21世紀實驗室挑戰。      

Features分析范圍：

Be - U 較小的占地面積 微區分析 上照設計 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:樣品室一直在真空環境中

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV是一種上照式的連續波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀，可以快速定量測定鈹（Be）到鈾（U）中的主要和次要原子元素，樣本類型 - 以最低標準。

新的ZSX指導專家系統XRF軟件

ZSX指導為XRF測量和數據分析的各個方面提供支持。準確的分析只能由專家進行嗎？不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內置的XRF專業知識和熟練的專家知識，可以處理復雜的設置。操作員只需輸入有關樣品，分析組分和標準組成的基本信息。具有最小重疊，最佳背景和校正參數（包括線重疊）的測量線可以借助質譜自動設置。

卓越的輕元素XRF表現與倒置光學為可靠性的優越

ZSX Primus IV具有創新的光學上述配置。由于樣品室的維護，再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有卓越的性能和分析最復雜樣品的靈活性，采用30微米的光管，這是業界最薄的終端窗口管，可提供出色的輕元素檢測限。

映射和多點XRF分析

結合最先進的測繪包裝來檢測均勻性和包裹體，ZSX Primus IV可以對樣品進行簡單詳細的XRF光譜測量研究，以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。

使用EZ-scan軟件的SQX基本參數

EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下對未知樣品進行XRF元素分析。節省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件，它可以提供最準確，最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應，包括線重疊。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛，雜質和不同樣品尺寸的二次激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序可以提高準確度。

特征

• 從Be到U的元素分析

• ZSX指導專家系統軟件

• 數字多通道分析儀（D-MCA）

• EZ分析界面進行常規測量

• 管道上方的光學器件使污染問題最小化

• 占地面積小，使用的實驗室空間有限

• 微量分析可分析小至500μm的樣品

• 30μm管提供卓越的輕元素性能

• 映射功能的元素地形/分布

• 氦氣密封意味著光學器件始終處于真空狀態

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